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集成電路測(cè)試技術(shù)與實(shí)踐

集成電路測(cè)試技術(shù)與實(shí)踐

定  價(jià):59 元

        

  • 作者:劉晉東[等]編著
  • 出版時(shí)間:2025/9/1
  • ISBN:9787111787457
  • 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN407 
  • 頁碼:224頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:26cm
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本書聚焦集成電路測(cè)試領(lǐng)域,系統(tǒng)且全面地闡述了相關(guān)理論、技術(shù)與實(shí)踐應(yīng)用,為集成電路相關(guān)專業(yè)學(xué)生及從業(yè)者提供了極具價(jià)值的知識(shí)體系。本書將理論知識(shí)與豐富的實(shí)際案例相結(jié)合,緊跟行業(yè)前沿技術(shù),為讀者提供了集成電路測(cè)試領(lǐng)域從基礎(chǔ)到前沿、從理論到實(shí)踐的全方位指導(dǎo),是一本助力讀者掌握集成電路測(cè)試技術(shù)、解決實(shí)際問題的實(shí)用教材。全書共6章,分別是緒論、集成電路測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)、數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)與實(shí)踐、模擬集成電路測(cè)試技術(shù)與實(shí)踐、數(shù);旌霞呻娐窚y(cè)試技術(shù)與實(shí)踐,以及其他典型電路測(cè)試技術(shù)與實(shí)踐。
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