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弱標(biāo)簽光學(xué)遙感圖像目標(biāo)檢測(cè)研究

弱標(biāo)簽光學(xué)遙感圖像目標(biāo)檢測(cè)研究

定  價(jià):78 元

        

  • 作者:吳鑫[等]著
  • 出版時(shí)間:2025/7/1
  • ISBN:9787563575886
  • 出 版 社:北京郵電大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TP751 
  • 頁碼:196頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:24cm
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本書聚焦于光學(xué)遙感圖像中的目標(biāo)檢測(cè)技術(shù),分析圖像中目標(biāo)的特征及其對(duì)應(yīng)的標(biāo)簽問題,并歸納出三種常見的標(biāo)簽情況,即標(biāo)簽錯(cuò)誤、標(biāo)簽單一和標(biāo)簽缺失,進(jìn)而引出弱標(biāo)簽的概念,并對(duì)每種標(biāo)簽問題的現(xiàn)有解決方案及其局限性進(jìn)行探討;诖,書中進(jìn)一步提出了針對(duì)不同標(biāo)簽問題的創(chuàng)新方法,并展示了相關(guān)實(shí)驗(yàn)結(jié)果。此外,部分方法還在嵌入式設(shè)備上得到了驗(yàn)證。
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