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實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)與參數(shù)優(yōu)化
本書講述新技術(shù)(新產(chǎn)品)開(kāi)發(fā)過(guò)程中減少實(shí)驗(yàn)數(shù)目,減少實(shí)驗(yàn)消耗,縮短開(kāi)發(fā)周期,降低開(kāi)發(fā)成本,快速開(kāi)發(fā)出質(zhì)量?jī)?yōu)良、成本低廉的產(chǎn)品的基本理論、基本方法與實(shí)踐。本書提供了多種化學(xué)過(guò)程的實(shí)驗(yàn)?zāi)P驮O(shè)計(jì)與實(shí)例,提供了多個(gè)復(fù)雜化學(xué)過(guò)程的微分方程的積分并展示了模擬運(yùn)行圖,也研究了不等容全混釜串聯(lián)裝置的停留時(shí)間分布密度函數(shù)與分布函數(shù)。遵照一般的數(shù)學(xué)方法定義了零相關(guān)-弱相關(guān)試驗(yàn)設(shè)計(jì)的概念,研究了它們的存在條件與構(gòu)造方法,用直接法構(gòu)造出了運(yùn)行數(shù)直到38的超立方與固定水平類型陣列及若干個(gè)混合水平零相關(guān)陣列例;描述了新技術(shù)開(kāi)發(fā)的基本試驗(yàn)統(tǒng)計(jì)模型,并開(kāi)發(fā)了配套軟件。
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